信息通信技术与政策

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信息通信技术与政策 ›› 2019, Vol. 45 ›› Issue (8): 17-21.

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适用于5GOTA射频测试的动态赋形紧缩场研究及其应用

  

  • 出版日期:2019-08-15 发布日期:2020-11-26
  • 作者简介:
    任宇鑫:中国信息通信研究院技术与标准研究所无线与移动研究部工程师
    张翔:中国信息通信研究院技术与标准研究所无线与移动研究部主任工程师
    魏贵明:中国信息通信研究院技术与标准研究所无线与移动研究部主任
    李雷:中国信息通信研究院技术与标准研究所无线与移动研究部工程师
    孙浩:北京邮电大学硕士研究生
    宫剑:国家无线电监测中心检测中心工程师

  • Online:2019-08-15 Published:2020-11-26

摘要: 由于5G引入大规模天线MassiveMIMO和毫米波技术,4G时期采用传导测试的方式已经无法满足5G基站测试需要,因此5G基站射频指标测试转向采用OTA空口测试方法。本文在分析大型紧缩场测试方法的基础上,介绍了一种能够支持Sub6GHz5G基站测试的小型化、低成本的新方法,即动态赋形紧缩场的测试方法。通过从原理到实际验证的阐述,说明该方法能够满足3GPP规范要求的全部5G基站射频指标测试,能够大幅降低场地要求和构建成本,显著提升测试效率,为5G基站测试提供一种全新的测试解决方案。该方案已经在3GPPRAN4 #90B会议上一致通过,并将写入TR37.843 测试规范中。

关键词: 动态赋形紧缩场, 平面波, 射频指标, OTA, 5G